Научные сотрудники института А.В. Латышев (справа) и А.Б. Красильников проводят исследования атомных процессов на поверхности кремния с помощью уникальной сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии (СВВ-ОЭМ) на базе электронного микроскопа ЕМ-7а, модифицированного в ИФП.

Автор: Ахмеров Рашид Ибрагимович